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場發射掃描電鏡和電子探針雙雙獲得專家好評
文章來源:本站   作者:張燕鳴  發布日期:2013/7/3 10:39:57  點擊:1956

    JSM-7001F場發射掃描電鏡和JXA-8230電子探針落戶石油裝備質檢中心已近一年,經過一段時間的調試和使用,已逐步步入正軌,但是由于設備的高端性和復雜性,一直以來都未得到很好的利用和認可。

    JSM-7001F場發射掃描電鏡是能夠滿足與高分辨率和易用性同樣的分析應用需求的理想平臺,目前主要用于各種材料的表面形貌分析,材料的組成及物相分析,包括能譜、背散射電子分析等,尤其是在配上OXFORD的能譜儀之后,能夠在一定程度對材料的化學成分實現定量分析,極大地拓展了場發射掃描電鏡的使用范圍。JXA-8230電子探針全稱JXA-8230超級電子探針顯微分析儀,是一款高分辨率、高穩定、WD/ED組合的電子探針顯微分析儀。電子探針可以實現對礦物、巖石、金屬、材料等的微區化學組成定性和定量分析,同時也可以試下線分析、面分析、微區形貌圖像、成分分布圖像及微區結合狀態分析等,應用范圍特別廣,目前在我石油裝備中心,主要用于有色金屬制品的化學成分分析,在一定程度上彌補了部分元素難以進行化學成分分析的缺憾。

    今天,CNAS評審組專家來石油裝備質檢中心進行資質認定考察,對我們的場發射掃描電鏡和電子探針贊不絕口,李老師認為新型高科技設備不僅提高了我們自身的檢驗檢測能力,拓寬了檢驗檢測領域,同時對整個行業的發展也起到了很大的推動作用。
 
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